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Nahfeldscanner gegen Störungen auf Platinen
06.04.2009, Nahfeldscanner gegen Störungen auf Platinen
Das Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme (ENAS) in Paderborn hat einen neuen Scanner für Elektronik entwickelt, mit dem sich die Strahlung von einzelnen Bauteilen sichtbar machen lässt. Das soll die Entwicklung vereinfachen und im zweiten Schritt auch Chipkarten sicherer machen. (RFID, Technologie)
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